114檢測網（http://www.test114.com.cn）提供可靠性試驗、電磁兼容測試、IP防護等級測試、高低溫振動沖擊試驗、鹽霧測試、低氣壓試驗、雷擊試驗、防塵防水等服務,實驗室已獲國家級CNAS、CMA資質認可,出具產品檢測報告
高低溫試驗測試是用來確定產品在高溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性的方法。高低溫試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續時間。
高低溫放置試驗顧名思義即為高溫貯存和低溫貯存試驗。全民檢測高低溫試驗依據按照GB/T2423.1和GB/T2423.2標準進行試驗。
高溫貯存試驗：電子設備擱置在溫度試驗箱中，設備處于斷電狀態，高溫貯存結束后，進行通電測試；
低溫貯存試驗：電子設備擱置在溫度試驗箱中，設備處于斷電狀態，低溫貯存結束后，進行通電測試。
高低溫試驗測試流程：
1、在樣品斷電的狀態下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時;
請勿在樣品通電的狀態下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態下，芯片本身就會產生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其凍透，再次通電進行測試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試，觀察是否有數據對比錯誤。
4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態，4個小時后，執行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復10次。
如果測試過程出現任何一次不能正常工作的狀態，則視為測試失敗。
高低溫試驗參考標準：
GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法
